Cost-effective通讯领域专用光束分析仪！通讯领域专用光束分析仪价格革命！ 关键词：光束分析仪，聚焦光束测量仪，聚焦光轮廓分析仪，通讯领域专用光束分析仪，光束质量分析仪，实时准直系统，实时光斑准直测量系统，C波段光束分析仪，L波段光束分析仪，C&L波段光束分析仪 为了满足通讯领域中广大客户的需求，并提高客户的工作效率和降低客户的生产成本，德国著名光束分析仪厂商Cinogy公司设计生产了专门用于通讯领域的光束分析仪，主要用于测量850nm，1310nm和1550nm等通讯波长的激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等，实时监测光束形状以及变化。 德国Cinogy公司为通讯领域设计生产的光束分析仪主要分为CinAlign光束分析仪和CinFocus光束分析仪两种。CinAlign光束分析仪主要是用于准直的或者较大光斑（一般在53um以上）的激光光束测量，一般用于测量远场的激光光束；CinFocus光束分析仪主要是用于聚焦光斑（最小可达1.1um）的激光光束测量，一般用于测量近场的激光光束。 CinAlign光束分析仪 – 用于测量准直或者较大光斑的激光光束 德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinAlign光束分析仪，主要是用于测量准直的或者较大光斑的激光光束的光斑大小、能量分布、发散角、功率以及指向稳定性等。CinAlign主要分为CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR两种相机，基本涵盖了所有通讯波长，其响应波长范围为320~1610nm，主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长的激光器。CinAlign测量的激光光斑范围为52um~4mm，兼容测量连续以及脉冲激光器。 特点： 1. 测量的波长范围：320~1610nm 2. 测量的光斑大小：52um~4mm 3. 实时监控光斑形状以及变化 4. 分辨率高，高准确度 5. 测量激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等 技术指标： 相机型号 CinCam CMOS-1202 CinCam CMOS-1201-IR 规格 1/1.8’’ 1/2’’ 通光孔径 6.8mm x 5.4mm 6.7mm x 5.3mm 分辨率 1280x 1024 1280x 1024 像素大小 5.3um x 5.3um 5.2um x 5.2um 波长范围 320~1350nm 1470~1610nm 位深 8Bit 8Bit 动态范围 >62dB >61dB 接口 USB2.0 USB2.0 模式 连续和脉冲 连续 尺寸(WxHxL) 40mm x 40mm x 20mm 40mm x 40mm x 20mm 主要软件视图： 1. 光斑/功率的测量 2. 发散角的测量 CinFocus光束分析仪 – 用于测量聚焦的激光光束 德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinFocus光束分析仪，主要是用于测量聚焦光束的焦点光斑大小、焦距、发散角、功率以及指向稳定性等。该系统集成了CinCam CMOS光束分析仪，确保了测量的准确性。测量波长范围为320~1610nm，基本涵盖了所有通讯波长，一般主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长。CinFocus光束分析仪系统主要由显微镜和CinCam CMOS光束分析仪组成，其可测量的聚焦的光斑最小可达1.1um。另外，该系统为一个开放式光束分析仪系统，其中的CinCam CMOS光束分析仪可取下使用，用于测量准直的或者较大光斑的光束（最大测量光斑为4mm）。 特点： 1. 测量的波长范围：320~1610nm 2. 测量的光斑大小：1.1um~4mm 3. 实时监控光斑形状以及变化 4. 分辨率高，高准确度 5. 测量焦点位置的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等 技术指标： 规格 10x System 20x System 40x System 波长范围 320~1350nm，1470~1610nm 工作距离(mm) 10 3.3 0.6 焦距(mm) 15.26 8.55 4.39 可替换的衰减片 OD1.0~OD5.0 光学分辨率(um) 1.5 1.2 1 光斑大小(um): CMOS1201 CMOS1202 CMOS1203 ~5.2-267 ~5.3-272 ~4.5-270 ~2.6-134 ~2.6-136 ~2.3-135 ~1.3-67 ~1.3-68 ~1.1-67 视场(um)： CMOS 1201 CMOS 1202 CMOS 1203 666 x 533 678 x 543 720 x 540 333 x 267 339 x 272 360 x 270 167 x 134 170 x 136 180 x 135 最大输入功率 100mW 主要软件视图： 1. 焦点位置的光斑/功率/指向稳定性的测量 2. 发散角的测量